Hidrogeoquímica de la recarga de los acuíferos del Campo de Dalías a partir de la sierra de Gádor

Si quieres la paz, prepárate para la guerra. El aumento del número de armas ofensivas puede ser algo puramente defensivo. La peor carretera puede ser el mejor camino a la batalla. Edward Luttwak nos enseña que la estrategia está compuesta de proposiciones como éstas, aparentemente contradictorias, en un ejemplo de la lógica paradójica que domina todo el ámbito del conflicto. En este libro ampliamente elogiado, que se presenta en una edición revisada y aumentada, Luttwak desvela la particular lógica de la estrategia nivel a nivel, desde la táctica de combate a la gran estrategia. A...

Un ágil manual para quien quiere cimentarse en la fotografía deportiva, fotografía que puede parecer, a primera vista, especializada, pero que te reserva enormes satisfacciones. Completo con fichas para varios deportes y ejemplos prácticos para trabajar en un diario o una agencia.

Esta publicación se enfoca en los fundamentos para la medición de la rugosidad superficial 3D, de acuerdo con metodologías y normalización recientes, principalmente la norma ISO 25178. Contiene aspectos sobre la importancia de la medición de la rugosidad 3D, evolución de la medición, parámetros de caracterización y técnicas de filtrado e incertidumbre de medición. El contenido se orienta a personas involucradas con aplicaciones en las cuales la microtopografía o nanotopografía de las superficies se relaciona con funciones relevantes del producto o proceso.

Pertenece a la colección APUNTES DELINEACIÓN INDUSTRIAL, dirigida tanto a Estudiantes en centros de Formación Profesional e Ingenierías, como a Técnicos, Delineantes y Proyectistas que trabajan en Talleres y empresas del mundo laboral. Su objetivo es que pueda servirles en su trabajo como referencia, estudio, consulta y aplicación práctica directa en el diseño de elementos, equipos e instalaciones en campos tan diversos como Calderería, Estructuras, Mecanismos, Tuberías, Construcción, Carpintería, Electricidad y Electrónica.