La calidad en el área de diseño

Este libro está destinado a todos los profesionales de la Mecánica de precisión y de Electricidad. Los alumnos de los centros escolares de enseñanza técnica, especialistas en mecanismos, técnicos de las industrias, hallarán aquí valiosas informaciones que no se encuentran reunidas en ninguna otra parte.

�Dise�as y desarrollas un producto? �Quieres desarrollarlo en menos tiempo? �Quieres desarrollarlo de una forma m�s econ�mica? �Quieres aumentar su calidad real, de uso y percibida por el cliente? El An�lisis Modal de Fallos y Efectos (AMFE) es una potente metodolog�a aplicada en las fases iniciales de dise�o y desarrollo de un producto, que nos permite identificar, prevenir y jerarquizar potenciales fallos de un sistema, proponiendo acciones que los eliminen o minimicen sus efectos. Y todo ello antes de que aparezcan o de haber fabricado prototipos. Es decir, cuando las...

Circuitos eléctricos. Teoría y práctica es un texto concebido, desarrollado y escrito con el propósito de constituir un manual que explique con detalle el uso de las herramientas analíticas para desentrañar el funcionamiento de cualquier circuito eléctrico, a fin de que el alumno de ingeniería eléctrica y electrónica sea capaz de utilizar estas herramientas en cualquier proyecto de diseño donde intervengan dispositivos que puedan ser modelados mediante circuitos eléctricos, aun si el dispositivo es muy complejo. Por tanto, este libro está dirigido, de manera especial, a futuros...

El libro propone un modelo de gestión de las TIC para potencializar la trasformación de Santa Marta (Colombia) en una ciudad inteligente. Esta propuesta se estructura en tres niveles de gestión de las TIC: el estratégico, el táctico y el operativo, los cuales se relacionan con la madurez, la inteligencia y la tecnología de la ciudad, respectivamente. El modelo se basa en las buenas prácticas y las normas internacionales sobre las TIC y las teorías reconocidas en la materia, y fue elaborado a partir de un instrumento diseñado para cuantificar los indicadores de las dimensiones de dos...